膜厚仪的介绍
更新时间：2012-08-24 点击次数：2953
膜厚仪，又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度，也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
CM-8826 膜厚仪 技术参数：
功能： 测量导磁物体上的非导磁涂层和非磁性金属基体上的非导电覆盖层的厚度
测量方法：F 磁感应 NF 涡流
测量范围：0～200um/500um/1000um/～15000um
分辨率：0.1/1
zui小测量面积：6mm
zui薄基底：0.3mm
自动关机
使用环境：温度：0-40℃ 湿度：10-90%RH
准确度：±（1～3%n）或±2um
公制/英制：可选择
电源：4节7号电池
电池电压指示：低电压提示
外形尺寸：126X65X27mm
重量：81g（不含电池）
测量范围可选：0-200um to15000um
当前位置：
地址：广州市荔湾区海北裕海路265号B栋3楼
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传真：86-020-81509478