台式的荧光X射线膜厚仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。

保障膜厚仪测量显示值准确性必要懂得以下小技巧

基体金属特性

不应在试件的弯曲表面上测量。