影响铁基涂层测厚仪测量要素有哪些

1，基体金属磁性变化。为了防止热处理、冷加工等因素的影响，应运用与镀件金属具备相异性质的铁基片上 对磁性涂层测厚仪实行校对。
2，测量基体金属厚度，基体金属有一定临界厚度，超出厚度测量就不受基体厚度的影响。
3，边缘效应，在接近试片边缘或内转角处实行测量是不的，校正试片尽量在试片中心以节减误差。
3，测量件曲率，试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小显著增大。因而不应在试件超出允许的曲率半径的弯曲面上测量。
5，被测物体外表面粗糙度，基体金属和外表面粗糙度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙外表面会致使系统误差和偶尔误差，每次测量时，在不同地方上应添加测量的次数，以克制这种偶尔误差。假如基体金属粗糙，还必需在未涂覆的粗糙度相似的基体金属试件上取几个位置校正磁性涂层测厚仪的零点；或用对基体金属没有侵蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校正磁性涂层测厚仪的零点。
6，磁场，被测物体四周磁场会预扰磁性测量，影响铁基涂层测厚仪精度。
7，附着物质，铁基涂层测厚仪对那些阻碍探头与覆盖层外表面严密接触的附着物质敏感。因而必需消除附着物质，以保障探头与覆盖层外表面直接接触。
8，测量进程中探头的置放，探头的放的方式对测量有影响，在测量中使探头与试样外表面维持垂直。这是铁基涂层测厚仪（其余测厚仪，如超声波测厚仪也是这样）测量中要注意的问题。
9，试片的变形及试片本身的误差，探头使软覆盖层试件变形，因而在这些试件上会呈现一定的误差。
10，测量次数，关于数据要求经度较高的测量要进行几次测量求平均值，精度要求更高的可以多台仪器测量求平均值。
11，还有一些其它不确定要素。